該設(shè)備主要用于半導(dǎo)體器件的外觀檢測和性能檢測，從而判斷半導(dǎo)體器件功能和性能是否達到設(shè)計規(guī)范要求。主要針對半導(dǎo)體器件電檢參數(shù)測試、分類甄選儲存、激光打印標(biāo)識、表面檢測、標(biāo)識檢測、外型尺寸五個面檢測、編帶包裝輸出等。
具備高速測試打標(biāo)編帶能力，采用高精度的DDR，確保性能穩(wěn)定和高UPH產(chǎn)出
檢測站最多可配4個電性能測試、1個3D檢測，高效方向辨別、光學(xué)及電性性能的檢測
主轉(zhuǎn)盤配有伺服電機驅(qū)動的18個吸嘴，可把產(chǎn)品精準(zhǔn)送至各個工位
打標(biāo)盤能高速完成激光打標(biāo)、吸塵、打標(biāo)視覺檢測功能等
編帶出料站可自動編帶，同時還具備了自動補料功能
